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空间单粒子效应——影响航天电子系统的危险因素

丛 书 名：国防电子信息技术丛书
著 者：（美）Edward Petersen（E. 彼得森 ）
作 译 者：韩郑生 等
出版时间：2016-03
字 数：505
页 数：316
版 次：01-01
开 本：16开 开
印 次：01-01
ISBN：9787121281976
所属分类：科技,电子技术,微电子、集成电路、显示技术,
定价：79.0

内容简介:
本书主要讲述电子器件在空间环境中的单粒子效应，器件在空间应用时单粒子辐照效应的地面评估方法，及其空间应用时的错误概率计算。全书共17章，第1章和第2章主要介绍电子元器件空间单粒子效应的基础知识；第3章至第5章对地面模拟空间单粒子效应的试验进行详细介绍、阐述试验数据的分析方法；第6章讲述试验数据如何与器件机理进行对应；第7章、第8章、第11章至第17章讲述空间单粒子翻转错误率的计算与空间环境中的预估；第9章和第10章介绍两种特殊的单粒子效应。

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