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电子元器件失效分析技术

丛 书 名：可靠性技术丛书
作 译 者：恩云飞,来萍,李少平
出版时间：2015-11
字 数：618
页 数：476
版 次：01-01
开 本：16开 开
印 次：01-01
ISBN：9787121272301
所属分类：科技,电子技术,电子技术应用,
定价：98.0

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内容简介:
本书是工程应用类书，主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容，使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念，技术和设备、方法和流程，指导开展相关的失效分析工作，并了解失效预防的一些基本方法和手段。

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